在《PONS词典》中的词汇
德语
英语
Ras·ter(·elek·tro·nen)·mi·kro·skop 名词 nt
英语
德语
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- Rasterelektronenmikroskop nt <-s, -e>
有关生物学的词语（Klett）
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- Rasterelektronenmikroskop (REM)
单语范例（未经PONS编辑处理）
Die Aufnahme der Faserstruktur erfolgt im Rasterelektronenmikroskop, die Klassifizierung anschließend mithilfe der durch energiedispersive Röntgenanalyse gewonnenen Röntgenspektren.
de.wikipedia.org Die typischerweise mit einem Rasterelektronenmikroskop erzeugten Bilder sind Abbildungen der Objektoberflächen und weisen eine hohe Schärfentiefe auf.
de.wikipedia.org Die Möglichkeit, mehrere Signale parallel zur Abbildung nutzen zu können, ist eine der besonderen Eigenschaften aller Rasterelektronenmikroskope.
de.wikipedia.org Im Rasterelektronenmikroskop führt die so gewonnene Leuchtdichte zu einer besseren Bildauflösung und zu einem im Vergleich zur Wolframkathode besseren Signal-/Rauschverhältnis.
de.wikipedia.org Die Unterscheidung innerhalb der Unterordnung ist schwieriger und erfolgt vielfach aufgrund von Untersuchungen mit dem Rasterelektronenmikroskop.
de.wikipedia.org 互联网提供的例句（未经PONS编辑处理）
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chemie.uni-paderborn.de Bei einem Rasterelektronenmikroskop wird ein Elektronenstrahl über die zu untersuchende Probenoberfläche geführt ( Rasterung ).
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In a scanning electron microscope an electron beam is scanned over the surface of a sample ( scanning ).
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www.mv.uni-kl.de Das XL 40 von Philips ist ein Rasterelektronenmikroskop mit extra großer Probenkammer.
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The XL 40 manufactured by Philips is a scanning electron microscope with an extra large sample chamber.
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www.igm.uni-stuttgart.de Für die Analyse von prozessierten Schichten und Strukturen stehen neben Lichtmikroskopen auch ein Rasterelektronenmikroskop (JEOL) und ein Rasterkraftmikroskop (DME) zur Verfügung.
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There are several optical microscopes available to analyse the processed layers and structures, as well as a scanning electron microscope (JEOL) and an atomic force microscope (DME).
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www.internoto.de Seit 15 Jahren werden den meisten Erstbeschreibungen Fotos des Samens beigefügt, die unter dem Rasterelektronenmikroskop gemacht wurden - oft als REM-Aufnahmen abgekürzt.
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For 15 years most first descriptions have included photos of the seed, which were made under the scanning electron microscope - often abbreviated to SEM ( REM in German ).
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chemie.uni-paderborn.de Focused Ion Beam mit Rasterelektronenmikroskop und angeschlossenem EDX (Zeiss Neon 40) Sputteranlage zur Probenvorbereitung:
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Focused Ion Beam with Scanning Electron Microscope and EDX (Zeiss Neon 40) Sputtercoating sample preparation:
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